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目前, 基于深度學(xué)習(xí)的目標(biāo)檢測(cè)方法層出不窮, 一般來(lái)說(shuō), 基于深度學(xué)習(xí)的缺陷檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)從 結(jié)構(gòu)上可以劃分為: 以Faster R-CNN [43]為代表的兩階段 (two stage)網(wǎng)絡(luò)和以SSD [44]或YOLO [45]為代表的一階段 (one stage)網(wǎng)絡(luò).